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2008/07/07

軟X線反射率計

午前中は中性子の職員会議。J-PARCに建設中の装置の進捗状況を中心に、必要事項を打ち合わせした。

午後は鳥飼さん、山田君とともにPFの久保田さんの「軟X線反射率計」の話を聞いて色々と意見交換をした。エネルギーの低い軟X線(硬X線の1/10程度のエネルギー)は物質への透過度が低いため、物質の構造解析に使われることは稀で分光などに用いられることが多い。しかし表面だけを見るつもりならそのデメリットはあまり目立たず、むしろ小角散乱領域の構造を効率的に測定できる、と言うメリットがある。その上窒素や酸素などの軽元素の吸収端を利用できるため、特別な試料を用意することなしにコントラスト変化の測定ができる。今日はその辺の話を聞いて、どのような応用の可能性があるか、について議論した。

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